产品信息 CTM-1100 单向厚度测量仪 来自 admincorhai|已发表 2019年1月25日 CTM系列厚度测量仪采用光学方法测量厚度,测量精度高、响应速度快,同时,与传统测量方式相比,由于采用了非接触测量方式,对被测件无污染、无损伤,适用于石英晶片、蓝宝石晶片、光学平板玻璃、透镜、硅晶片等高精度、高表面质量零件的测量。