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    CTM-2100 双向厚度测量仪
    CTM系列厚度测量仪采用光学方法测量厚度,测量精度高、响应速度快,同时,与传统测量方式相比,由于采用了非接触测量方式,对被测件无污染、无损伤,适用于石英晶片、蓝宝石晶片、光学平板玻璃、透镜、硅晶片等高精度、高表面质量零件的测量